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Bell Labs, Lucent Technologies | 論文

• 極薄ゲート酸化膜への窒素導入がNBTIに及ぼす影響
• 多重クラス認識結果の検証のための識別関数の設計
• 分類手法による多重クラス認識結果の検証
• Quantitative TEM of point defects in Si
• Optimizing the environment for sub-0.2 nm scanning transmission electron microscopy

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