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産業技術総合研究所計測標準研究部門 | 論文
- エネルギー・フィルター付き電離真空計の小型化
- Bessel-Box 型エネルギー分析器を用いた電離真空計の試作
- 5p-W-12 金, 銀, 銅島状薄膜の分光偏光解析法による測定
- 金島状膜の分光偏光解析 (第29回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス)
- 進展する長さ標準とその普及
- ファインセラミックスを用いた実用長さ標準器
- 低コヒーレンス干渉を利用した光ファイバーによる長さ情報の伝送
- C-3-10 移動回折格子によるヘテロダイン方式フーリエ変換赤外分光法
- ランプ光源白色干渉のヘテロダイン化技術
- P3-40 位相共役光干渉計を用いた表面き裂の画像化に関する研究(ポスターセッション3(概要講演))
- ^Si球体の直径の超精密測定 : アボガドロ定数によるキログラムの再定義
- 第26回日本熱物性シンポジウム報告
- 熱機械分析装置による固体物質の熱膨張測定に関するラウンドロビン試験
- 広視野赤外放射温度計校正用黒体空洞の放射特性評価
- レーザー超音波による精密音速測定と半導体プロセスの温度計測への応用
- 原子力発電給水流量計校正のための高レイノルズ数実流校正設備 : 不確かさ評価および実流校正試験(流体工学,流体機械)
- 原子力発電給水流量計校正のための高レイノルズ数実流校正設備 : 設備の概要および特性(流体工学,流体機械)
- 高温用単色放射温度計の新校正法とその校正精度
- 高温用単色放射温度計の新校正法
- 21pRB-6 X線結晶密度法によるシリコン原子空孔評価とキログラムの再定義(21pRB 領域10シンポジウム:シリコン結晶中の単原子空孔:量子状態解明の新たな展開と半導体技術イノベーション,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))