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理学電機 | 論文
- 極超短波長X線回折法によるC(ダイヤモンド)、Si、Ge、Fe_3O_4などの電子密度分布解析
- TG-MS : 同時熱重量-質量分析法を用いた発生気体分析(2)
- TG-MS : 同時熱重量-質量分析法を用いた発生気体分析
- 7p-E-5 加工した純鉄のメスバウァー効果
- 28a-PS-50 低温相NiCr204の結晶構造解析
- 1p-E-10 結晶コリメーターを用いる X 線回折投影法 III
- 28pYR-3 PbTiO_3常誘電相の精密電子密度分布解析
- 6a-CM-9 2光東変調型遠赤外レーザー干渉計
- 27a-A-3 すれすれ入射及び出射X線回折法によるGaAlAs系混晶薄膜のTDS測定
- 27a-A-1 Si ウエハー(111)表面の原子変位
- 2a-N-9 非対称反射X線散漫散乱法によるSi単結晶の加工歪層の評価
- 2F611 X線回折法を用いた反強誘電性液晶における構造の研究
- 4a-R-5 X線回折を用いた反強誘電性液晶における構造の研究
- 29p-BPS-11 メスバウアー効果による鉄微粒子の酸化表面との界面層の格子振動
- 結晶と乾板が個々に動くX線顕微法カメラの試作 : 粒子線・X線
- 極低温X線回折用クライオスタツトの製作(II) : 粒子線・X線
- 13p-P-2 シリコンの格子欠陥
- 脱バインダ過程の解析に有効なダイナミック熱天秤 (特集 押出成形の新しい展開)
- NaNO_2の相転移 : 誘電体
- KNO_3の相転移(I) : 熱膨張(熱膨張連続記録X-ray Diffractometer) : X線電子線