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東京都立工業高等専門学校 | 論文
- 光触針式輪郭測定機の性能向上を目的としたスペックル誤差補正システム
- スペックルノイズ除去機能を有する光触針式輪郭測定法の研究
- パソコン利用の4軸ローコストNC工作機械の開発(第2報NC工作機械ならびにロボットの開発)
- パソコン利用の4軸ローコストNC工作機械の開発 (第1報 都城南地域企業との共同研究の試み)
- B26 振動破壊実験における動的三次元変位計測手法の研究開発(OS3-2 振動試験手法I)
- 電磁圧接および電磁成形用空芯トランスの特性
- 定常不規則近似を用いた地震応答特性の推定法 : 応答の自乗平均値の積分値の近似計算法(機械力学,計測,自動制御)
- 27aRB-1 In濃度に依存したIndium-zinc oxide透明導電薄膜の構造解析(27aRB 格子欠陥・ナノ構造(半導体・シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 21pWA-2 Co_3O_4におけるHAADF STEM像の像形成について(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 21pWA-1 Layer-by-layer法を用いた非整合多層膜の動力学計算II(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23aTG-11 スプレー法を用いた遷移金属内包カーボンナノオニオンの作成とその構造解析(ナノチューブ・グラフェンにおける欠陥,領域7,領域10合同講演,領域7,分子性固体・有機導体)
- 26aYF-11 a-Zn_7Sb_2O_の(110)面に形成される双晶境界の精密構造解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aYF-12 Layer-by-Layer法を用いた非整合多層膜の動力学計算(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-2 低指数入射CBED像を用いたSiGe中の湾曲測定(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-4 Absorptive form factorの高速計算(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-5 高分解能共焦点STEM像の結像理論とその可能性(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 24pTA-5 Zn_7Sb_2O_spinel構造体に生じるboundaryの構造解析(格子欠陥・ナノ構造(転位・機械的性質),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 平角導線に対する電磁圧接と抵抗スポット溶接の比較(放電,実装,EMC,一般)
- 平角導線に対する電磁圧接と抵抗スポット溶接の比較(放電,実装,EMC,一般)
- 703 超音波振動加振を利用した溶接残留応力の低減 : 加熱装置による検討(振動・超音波I)
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