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日本電子株式会社 | 論文
- X線像記憶装置 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- Multi-Detectorによる反射電子線像 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- 電子線検出器としてのSi P-N junctionの特性 : X線マイクロアナリシス シンポジウム
- 5a-O-2 Multi-Phase Alloyの吸収電子線による観察
- 吸収電子線像のコントラスト : X線・粒子線
- 質量分析法によるバクテリアの分子系統分類法の開発 : ターゲットはリボソームサブユニットタンパク質のアミノ酸配列の変異
- 質量分析法によるバクテリアの迅速同定・分類法の進歩
- マイクロカロリメータEDS-TEMによる高エネルギー分解能材料分析
- 高分解能EELSを用いたLaB_6微粒子の近赤外吸収の研究
- 28aYH-4 球面収差補正TEM及びEELSによるグラフェン観察(28aYH 領域7,領域9合同 グラフェン構造・表面物性,領域7(分子性固体・有機導体))
- 電子線励起超軟X線分光分析装置の開発
- 3p-E-10 平行平板型増倍管検出器による軟X線分光
- 電子顕微鏡用イメージングプレートのDQE特性の評価
- 23aPS-123 磁気共鳴力顕微鏡の開発IV : 周波数シフト検出(23aPS ポスターセッション,領域3(磁性,磁気共鳴))
- 21pPSB-53 磁気共鳴力顕微鏡の開発III(領域3ポスターセッション(フラストレーション,磁気共鳴,実験技術,微小領域),領域3,磁性,磁気共鳴)
- Ti-Zr-Ni系形状記憶合金における微細析出物の3D形態観察
- 半導体セラミックス材料の粒界観察
- 超高精細デジタルSEM画像の実用化
- 角柱状切片の利用による三次元電子顕微鏡像の改善
- 照射乾燥果実のESRによる検知に関する検討
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