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日本電子(株) | 論文
- 31a-J-7 単イオン型基底一重項系CsFeCl_3の交差磁場における秩序状態のNMR II
- 30a-PS-42 基底一重項磁性体CsFeCl_3の強磁場下での^Csの核磁気緩和 : DCEFA理論による解析
- 15a-DH-12 シリコン上へのAlの整合吸着相のSTM観察
- 25pYG-1 酸素導入による金ナノ粒子/ルチルの界面の状態変化(ナノ構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 29pPSB-27 ガス導入TEMホルダーによるAu/TiO_2触媒のその場観察II(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 29pTE-8 ガス雰囲気中その場観察TEM法による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(29pTE 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 28a-A-5 特別推進研究による構造解析用エネルギーフィルター電子顕微鏡の開発と結晶構造解析への応用
- 第3章 ナノ粒子の計測と分析 : 3. 7 電子線を用いたナノ粒子の計測・分析技術
- 分析電顕としてのCsコレクター (最新分析手法とその応用)
- 24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 球面収差補正TEMおよびSTEM
- 4p-M-13 400kV高分解能分析電子顕微鏡の応用I : 高分解能観察
- 新世代のLC-TOFMS"AccuTOF"の紹介 : TOFMSの原理から"AccuTOF"の最新技術まで
- 95 溶液中におけるリボヌクレアーゼHの立体構造解析(ポスター発表の部)
- 走査電顕試料作製におけるトラブルシューティング
- 走査電子顕微鏡のための生体試料作製法
- 89 オカダ酸の構造活性相関(ポスター発表の部)
- TEMの原理と触媒の分析
- エネルギー分散型X線分光法
- 電子顕微鏡による分析技法の最先端(磁性に関連したセンシング技術の広がりとその最前線)
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