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学校法人立命館 | 論文
蒸着された金属薄膜の強度
超伝導ジョセフソン素子材料の開発研究
Growth of Ti-Based Interface Layer in Cu(Ti)/Glass Samples
電子材料と共に歩んだ30年間
Ti基自己形成バリア構造の誘電体層組成依存性(配線・実装技術と関連材料技術)
ガラス基板上への高密着Cu膜の低温接合
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