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大阪大学大学院工学研究科 精密科学・応用物理学専攻 | 論文
- EEM(Elastic Emission Machining)によるSi(001)表面の平坦化(第2報) : 加工表面の原子像観察と構造評価
- EEM(Elastic Emission Machining)によるSi(001)表面の平坦化(第1報) : 半導体表面の超平坦化のための超清浄EEMシステムの開発
- 硬X線用斜入射平面ミラーの形状誤差が反射X線強度・位相分布に及ぼす影響の波動光学的評価
- 液中原子間力顕微鏡(AFM)の基礎と応用
- 原子間力顕微鏡のABC
- 液中AFMの高感度化と有機・バイオへの応用
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成
- 原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察
- STMおよびAFM, 原理と応用
- NANO7会議報告
- 原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成(加工・記録)(近接場科学の工学応用をめざして)
- 非接触原子間力顕微鏡による静電気力観察
- 非接触AFMの現状と将来
- 5-2 走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価 : 5. ナノ加工・評価技術(ナノテクノロジーの光とエレクトロニクスへの応用)
- 走査プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング
- Atomically Resolved Imaging of Si(100)2 × 1,2 × 1:H and 1 × 1:2H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy
- 非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるか?
- ノーベル賞と分光学 : VI. 走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡
- 走査プローブ顕微鏡によるナノテクノロジー
- Sb/Si混在表面における非接触AFM像の探針先端原子種依存性