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名古屋大学大学院工学研究科材料機能工学専攻 | 論文
- Er をδドーピングした InP のX線 CTR 散乱法による界面構造解析
- 高純度クロムの加工熱処理と予ひずみ付与による常温延性の改善
- 新型レドックスフロー電池の充放電特性に関する研究 : セリウムおよびバナジウムの電気化学特性
- 耐候光性と難燃性を有するポリプロピレンの剛性向上と難燃性の低下抑制のメカニズム
- 難燃剤の結晶形態の違いによるブルーミングメカニズム
- 新型レドックスフロー電池の電解質溶液の電気化学特性に関する研究
- 耐候性と難燃性の優れたポリプロピレンと反応のメカニズム
- 耐候性と難燃性の優れたポリプロピレンと反応のメカニズム
- 熱誘起構造移転による絡合相形成と長寿命有機材料への展開
- ポリフェニレンエーテルおよびポリフェニレンエーテル/ポリスチレン相溶アロイの燃焼と構造変化
- ポリフェニレンエーテルの転位反応と熱分解
- ポリフェニレンエーテルの熱劣化と転位を伴う分解
- ポリ(オキシ-2,6-ジメチル-1,4-フェニレン)のポリマ-構造と重合反応
- 有機材料の燃焼と表面現象--燃えない有機材料を作る
- 非相溶アロイ材料の分散相の形成と界面のグラフトポリマ-
- 非相溶アロイ材料のミクロ構造と界面の接合力
- III-V族化合物半導体量子井戸構造におけるIII族組成分布の膜厚および成長温度依存性のX線CTR散乱法による解析(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- III-V族化合物半導体量子井戸構造におけるIII族組成分布の膜厚および成長温度依存性のX線CTR散乱法による解析(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- III-V族化合物半導体量子井戸構造におけるIII族組成分布の膜厚および成長温度依存性のX線CTR散乱法による解析(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- Local Geometry and Energetics of Hydrogen in Orthorhombic SrZrO_3
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