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セイコー電子工業(株) | 論文
- 集束イオンビーム装置の開発(精密工学の最前線)
- FIB装置とその応用
- 2軸回転ラーメモード圧電振動子のエネルギー法による解析
- 高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH_4)_2S_x処理GaAs(001),(111)A,(111)B表面の研究
- (NH_4)_2S_x処理GaP(001),(111)A,(111)B表面の高分解能X線光電子分光(XPS)による研究
- C-11 走査型トンネル顕微鏡用圧電セラミックス微動機構(圧電材料・振動子)
- 4F202 STMによる液晶観察
- 24a-PS-22 有機物質のSTM測定(VII)
- 5a-PS-8 有機物質のSTM測定(VI)
- 2a-T-9 有機物質のSTM測定 (IV)
- 27a-P-10 有機物質のSTM測定(1)
- 走査型トンネル顕微鏡の探針微動機構(固体アクチュエータ)
- STMによる液晶観察
- 走査型プローブ顕微鏡
- 走査型プロープ顕微鏡(SPM)の設計
- 走査型プロープ顕微鏡の開発(開発の方法)
- 近接場顕微鏡による染色体の構造解析
- マイクロ・スパッタリングによるダイヤモンド薄膜の平坦化加工
- 131 球状黒鉛鋳鉄の低サイクル疲労特性に及ぼす基地組織の影響(鋳鉄の疲労)
- 27a-P-9 STS/STMによる層状物質の局所状態密度関数の測定