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ジェー・エー・ウーラム・ジャパン | 論文

• 反応性シールド型真空アーク蒸着法によるAlN膜の合成
• PC06 繰り込みエリプソメトリーと一般化エリプソメトリーを用いたセルパラメーター解析(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
• 高温溶融状態の光ディスク材料複素屈折率測定

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