スポンサーリンク
アルバック・ファイ株式会社 | 論文
- Cu-rich 融液から育成したBi-2212超伝導単結晶の光電子分光
- TOF-SIMSによるUV照射したフォトレジスト表面の化学構造変化の評価
- 分光装置の原理と実際 : V. 蛍光X線分光装置・X線吸収分光装置・X線光電子分光装置
- TOF-SIMSによるバイオセンサ基板上のタンパク質分布の評価
- バイオ関連評価におけるTOF-SIMSの可能性
- 最適化された低エネルギー一次イオン照射下におけるTOF-SIMSサンプリング深さの極浅化
- 22aPS-73 光電子分光法による鉄-チタン酸化物の電子状態
- 31pXF-6 エピタキシャル FeTiO_3 薄膜の電子状態
- 低加速Arイオン照射によるTiO2のTi 2p XPSスペクトルの変化
- オージェ電子分光法定量分析における装置補正因子
- 酸化物試料の X 線光電子分光法による定量分析
- イオンスパッタリングによる酸化物の X 線光電子ペクトルの変化
- 深さ方向分析におけるイオンスパッタリング収率の測定
- オージェ電子分光法による状態分析のためのスペクトル微細構造観察
- 酸素プラズマ処理ポリプロピレンフィルムとアルミニウム蒸着薄膜との接着性 -はく離界面の構造-
- 化学変化を原子レベルでみる(原子をみる)
- 電子線が絶縁物に与える帯電とその補償
- 二酸化シリコン薄膜(SiO_2)の電子線照射損傷を定量的に評価する
- 鋼中微量酸素定量用汚染除去前処理装置の開発
- 表面汚染の影響を受けない高精度鋼中微量酸素分析法の開発