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(株) デンソー, 幸田製作所, 半導体プロセス開発部 | 論文

• 横型SOI高速ダイオードの逆回復動作におけるダイナミックアバランシェ現象の解析とその抑制構造の検討
• 横型SOI高速ダイオードの逆回復動作におけるダイナミックアバランシェ現象の解析と, その抑制構造の開発

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