KUROIWA Tsuneyoshi | Department of Plant Sceinces, Graduate School of Science, University of Tokyo
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概要
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論文 | ランダム
- パス遅延の相関を考慮した統計的静的遅延解析手法の実装とその評価(VLSI設計技術とCAD)
- 正規分布を用いた統計的静的遅延解析手法の性能評価(システムLSIの応用と要素技術,専用プロセッサ,プロセッサ,DSP,画像処理技術,及び一般)
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