穂坂 紀子 | 神奈川科学技術アカデミー
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概要
関連著者
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穂坂 紀子
神奈川科学技術アカデミー
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斎木 敏治
慶応大 理工
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斎木 敏治
慶應義塾大学理工学部 神奈川科学技術アカデミー
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斎木 敏治
神奈川科学技術アカデミー
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SATO Tetsuya
National Institute for fusion Science
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腰原 伸也
神奈川科学技術アカデミー:東工大理工
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高橋 公一
東工大理工
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近藤 剛
東京工業大学
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宗片 比呂夫
東工大像情報
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松田 一成
神奈川科学技術アカデミー
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近藤 剛
東工大工
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物部 秀二
神奈川科学技術アカデミー
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宗片 比呂夫
東工大工
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宗片 比呂夫
東京工業大学理工学研究科附属像情報工学研究施設
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宗片 比呂夫
東工大・像情報
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宗片 比呂夫
東大大工
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物部 秀二
科学技術振興機構さきがけ:KAST
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松田 一成
京大化研
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酒井 優
東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟 X 線顕微計測研究部
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斎木 敏治
慶應義塾大学理工学部電子工学科
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斉木 敏治
東大工, KAST
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酒井 優
神奈川科学技術アカデミー光科学重点研究室近接場光学グループ
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斉木 敏治
東大工 Kast
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松田 一成
財団法人 神奈川科学技術アカデミー光科学重点研究室
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穂坂 紀子
財団法人 神奈川科学技術アカデミー光科学重点研究室
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斉木 敏治
神奈川科学技術アカデミー
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斎木 敏治
神奈川科学技術アカデミー:慶大理工
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斎木 敏治
慶應義塾大学
著作論文
- 28pZH-4 紫外近接場光学顕微鏡による GaN 薄膜の観測
- 28pZH-4 紫外近接場光学顕微鏡による GaN 薄膜の観測
- ナノ光計測技術--近接場光学顕微鏡によるナノ物質観測
- 近接場光学顕微鏡による高分解能/高感度イメージング (特集1 ガラスの分析評価技術)
- 20aRF-9 単一色素分子の近接場蛍光イメージングとその機構
- 20aRF-9 単一色素分子の近接場蛍光イメージングとその機構
- 24pRA-14 近接場光学顕微鏡を用いた単一色素分子の蛍究イメージング
- 開口型プローブを用いた単一色素分子の近接場螢光イメージング
- 近接場ナノイメージング分光技術の高分解能化とアクティブ操作
- 24pRA-14 近接場光学顕微鏡を用いた単一色素分子の蛍光イメージング