二文字 俊哉 | 新潟大学大学院 自然科学研究科
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概要
関連著者
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大河 正志
新潟大学工学部
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佐藤 孝
新潟大学工学部
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二文字 俊哉
新潟大学大学院 自然科学研究科
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二文字 俊哉
新潟大学大学院自然科学研究科
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大河 正志
新潟大工
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二文字 俊哉
新潟大学自然科学研究科
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松木 航平
新潟大学大学院自然科学研究科
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丸山 武男
新潟大学工学部
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澤村 明彦
新潟大学大学院自然科学研究科
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佐藤 孝
新潟大工
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小林 寛道
新潟大学大学院自然科学研究科
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佐藤 孝
新潟大学自然科学系
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丸山 武男
新潟大学
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高田 康平
新潟大学大学院自然科学研究科
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塚本 翔也
新潟大学工学部
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伊藤 伸一
新潟大学大学院自然科学研究科
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伊東 宏之
NICT
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細川 瑞彦
NICT
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伊東 宏之
(独)情報通信研究機構 新世代ネットワーク研究センター光・時空標準グループ
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国森 裕生
通信総合研究所
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嵯峨 孝
新潟大学大学院自然科学研究科
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吉野 泰造
通信総合研究所鹿島宇宙通信研究センター
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細川 瑞彦
情報通信研究機構新世代ネットワーク研究センター
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細川 瑞彦
通信総合研究所
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榛葉 實
東京電機大学工学部
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伊東 宏之
通信総合研究所
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伊東 宏之
独立行政法人情報通信研究機構
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榛葉 實
東京電機大 工
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川村 静児
国立天文台
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李 瑛
NICT
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李 瑛
情報通信研究機構
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長野 重夫
通信総合研究所
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李 瑛
通信総合研究所
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國森 裕生
通信総合研究所
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加藤 京
新潟大学大学院自然科学研究科
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東 亮一
新潟大学工学部電気電子工学科
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長野 重夫
NICT
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長野 重雄
通信総合研究所
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坪川 恒也
国立天文台水沢観測センター
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李 瑛
科学技術振興事業団
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小林 寛道
新潟大学工学部
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坪川 恒也
国立天文台・水沢観測センター
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坪川 恒也
国立天文台水沢観測所
著作論文
- Rb吸収線の磁気光学効果を用いた半導体レーザの周波数安定化 : fsレーザ光コムを用いた安定度の評価と光フィードバックを用いた周波数安定化への検討(半導体レーザ及び光パッシブコンポネント, 及び一般)
- C-4-12 Rb 吸収線のファラデー効果を用いた半導体レーザの発振周波数安定化 : 光コムを用いた安定度の評価
- C-4-12 Rb吸収線のファラデー効果を用いた半導体レーザの発振周波数安定化 : 長期の安定度の測定(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス)
- Rb吸収線の磁気光学効果を用いた半導体レーザの周波数安定化 : fsレーザ光コムを用いた安定度の評価と光フィードバックを用いた周波数安定化への検討(半導体レーザ及び光パッシブコンポネント, 及び一般)
- C-4-24 Rb 吸収線のファラデー効果を用いた半導体レーザの周波数安定化 : PEAK 方式を用いた長期安定化の検討
- Rb原子のファラデー効果を用いた半導体レーザの発振周波数安定化 : PEAK方式による安定化とその評価(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- Rb原子のファラデー効果を用いた半導体レーザの発振周波数安定化 : PEAK方式による安定化とその評価(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状、及び一般)
- Rb吸収線のファラデー効果を用いた半導体レーザの発振周波数安定化 : 微小変調幅の検討とPEAK方式への応用
- Rb原子のD_2吸収線のファラデー効果を用いた半導体レーザーの発振周波数安定化法の改善
- Rb吸収線のファラデー効果を用いた半導体レーザの発振幅を広げない周波数安定化
- Rb原子の吸収線の飽和吸収分光法を用いた半導体レーザの発振周波数安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- Rb原子の吸収線の飽和吸収分光法を用いた半導体レーザの発振周波数安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- Rb原子の吸収線の飽和吸収分光法を用いた半導体レーザの発振周波数安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- Rb原子の吸収線の飽和吸収分光法を用いた半導体レーザの発振周波数安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- Rb原子の吸収線の飽和吸収分光法を用いた半導体レーザの発振周波数安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 直接変調を用いた半導体レーザの安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 直接変調を用いた半導体レーザの安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 直接変調を用いた半導体レーザの安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 直接変調を用いた半導体レーザの安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
- 直接変調を用いた半導体レーザの安定化とその応用(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)