井上 剛 | 住重試験検査株式会社

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概要

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関連著者

• 安藤 真

  東京工業大学

• 平野 拓一

  東京工業大学

• 広川 二郎

  東京工業大学

• 岡田 健一

  東京工業大学

• 松澤 昭

  東京工業大学

• 李 寧

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 矢尾 裕樹

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 正岡 章賀

  住重試験検査株式会社

• 坂根 仁

  住重試験検査株式会社

• 井上 剛

  住重試験検査株式会社

• 平野 拓一

  名古屋工業大学電気情報工学科

• 松澤 昭

  東京工業大学大学院理工学研究科

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著作論文

• Heイオン照射によるシリコン基板高抵抗化の電磁界シミュレーションの基礎検討(光-無線融合NW、新周波数(波長)帯デバイス、フォトニックNW・デバイス、フォトニック結晶、ファイバとその応用、光集積回路、光導波路素子、光スイッチング、導波路解析、一般)
• Heイオン照射によるシリコン基板高抵抗化の電磁界シミュレーションの基礎検討(光-無線融合NW、新周波数(波長)帯デバイス、フォトニックNW・デバイス、フォトニック結晶、ファイバとその応用、光集積回路、光導波路素子、光スイッチング、導波路解析、一般)
• Heイオン照射によるシリコン基板高抵抗化の電磁界シミュレーションの基礎検討(光-無線融合NW、新周波数(波長)帯デバイス、フォトニックNW・デバイス、フォトニック結晶、ファイバとその応用、光集積回路、光導波路素子、光スイッチング、導波路解析、一般)
• Heイオン照射によるシリコン基板高抵抗化の電磁界シミュレーションの基礎検討(光-無線融合NW、新周波数(波長)帯デバイス、フォトニックNW・デバイス、フォトニック結晶、ファイバとその応用、光集積回路、光導波路素子、光スイッチング、導波路解析、一般)

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