高野 晋 | 東京理科大学界面熱流体力学研究室
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概要
論文 | ランダム
- Generation of Interface Traps and Oxide-Trapped Charge in 6H-SiC Metal-Oxide-Semiconductor Transistors by Gamma-Ray Irradiation
- Annealing Properties of Defects in Ion-Implanted 3C-SiC Studied Using Monoenergetic Positron Beams
- Defects in Ion-Implanted 3C-SiC Probed by a Monoenergetic Positron Beam
- P303 融解層雲に関する基礎的数値実験
- C212 融解過程による積雲対流の成長抑制(降水システムII)