茨木 創一 | 京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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概要
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻 | 論文
- 高分解能ラザフォード後方散乱法による表面分析
- Si中のSbの異常表面偏析
- 28a-T-4 Te終端GaAs(001)表面上におけるZnSeの成長形態と欠陥生成
- (4)縦型高分解能RBS(ラザフォード後方散乱)分析装置の開発(技術,日本機械学会賞〔2006年度(平成18年度)審査経過報告〕)
- 角度分解光電子分光法による深さ方向組成分析の高精度化の試み