福田 大治 | 産業技術総合研究所
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概要
関連著者
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福田 大治
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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福田 大治
産業技術総合研究所
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高橋 浩之
東京大学大学院工学系研究科
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平山 文紀
産業技術総合研究所
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大久保 雅隆
産業技術総合研究所
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大久保 雅隆
産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門
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大久保 雅隆
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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高橋 浩之
東京大学・工学系研究科
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永沢 秀一
超電導工学研究所
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高橋 浩之
東京大学大学院
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大野 雅史
理研
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高橋 浩之
東京大学・人工物工学研究センター
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佐藤 泰
産業技術総合研究所
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中沢 正治
東京大学大学院工学系研究科
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山田 隆宏
(独)産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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山森 弘毅
(独)産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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神代 暁
(独)産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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DAMAYANTHI R.
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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國枝 雄一
東京大学大学院・工学系研究科
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大野 雅史
東京大学大学院・工学系研究科
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安宅 学
東京大学・生産技術研究所
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國枝 雄一
東大工
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安宅 学
東京大学生産技術研究所
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中沢 正治
東京大学・工学系研究科
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中沢 正治
東京大学大学院 工学系研究科
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日高 睦夫
財)国際超電導産業技術研究センター
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中沢 正治
東京大学大学院工学系研究科システム量子工学
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永沢 秀一
(財)国際超電導産業技術研究センター
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山森 弘毅
産業技術総合研究所
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山田 隆宏
産業技術総合研究所
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中沢 正治
日本原子力研究所
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神代 暁
産業技術総合研
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大野 雅史
東京大学大学院工学系研究科原子力国際専攻
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山森 弘毅
産業技術総合研
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日高 睦夫
国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所
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日高 睦夫
国際超電導産技研センター
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永沢 秀一
国際超電導産業技術研究センター超電導工学研究所
-
永沢 秀一
国際超電導産技研センター
著作論文
- 超伝導転移端センサーによる光子数識別技術
- Ir/Au-TESを用いたX線マイクロカロリメータの開発
- 極低温検出器アレイ読み出しのためのマイクロ波SQUIDマルチプレクサ(超伝導エレクトロニクス基盤技術,一般)