藤巻 遼平 | NEC Laboratories America

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概要

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• NEC Laboratories Americaの論文著者

関連著者

• 藤巻 遼平

  NEC Laboratories America

• 森永 聡

  日本電気株式会社

• 遠藤 あゆみ

  医薬品医療機器総合機構(PMDA)

• 山田 香織

  医薬品医療機器総合機構(PMDA)

• 安東 正貴

  日本電気株式会社

• 熊野 愛子

  医薬品医療機器総合機構(PMDA)

• 駒嶺 真希

  医薬品医療機器総合機構(PMDA)

• 林 浩平

  東京大学情報理工学系研究科:日本学術振興会

著作論文

• 疎データに対する並列確率勾配法のための属性割当最適化(第15回情報論的学習理論ワークショップ)
• レセプトデータを用いたデータマイニングによる有害事象シグナル検出(セッション8A 特別セッション「ビッグデータ」)

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