堀切 智之 | 国立情報学研究所:スタンフォード大学:東京大学
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概要
国立情報学研究所:スタンフォード大学:東京大学 | 論文
- 量子情報処理技術の現状と展望 : 半導体スピンの光パルス制御と単一光子技術を中心として
- Si(110)面上熱酸化膜形成時におけるSiサブオキサイド時間発展のXPSリアルタイム測定(ゲート絶縁膜形成およびメモリ技術,ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- Si(110)とSi(100)表面の初期酸化過程の違い : リアルタイム光電子分光測定から(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- 単一光子を用いた量子情報システム
- 25pRD-5 高密度領域における励起子ポラリトンBECの励起スペクトル(25pRD 量子エレクトロニクス(量エレ),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))