Romero María | Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, 39106 Magdeburg, Germany
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概要
- 同名の論文著者
- Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, 39106 Magdeburg, Germanyの論文著者
関連著者
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BLASING Jurgen
Institut fur Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke Universitat
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Dadgar Armin
Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Universitätsplatz 2, 39106 Magdeburg, Germany
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Krost Alois
Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Universitätsplatz 2, 39106 Magdeburg, Germany
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Moser Pascal
Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Universitätsplatz 2, 39106 Magdeburg, Germany
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Berger Christoph
Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, 39106 Magdeburg, Germany
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Calle Fernando
Instituto de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología (ISOM) and Departamento de Ingeniería Electrónica, E.T.S.I. Telecomunicación, Universidad Politécnica de Madrid, 28040 Madrid, Spain
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Romero María
Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, 39106 Magdeburg, Germany
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Goldhahn Rüdiger
Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, 39106 Magdeburg, Germany
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Sakalauskas Egidijus
Institut für Physik, Technische Universität Ilmenau, PF100565, 98684 Ilmenau, Germany
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Feneberg Martin
Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, 39106 Magdeburg, Germany
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Feneberg Martin
Institute of Semiconductor Physics, Ulm University, 89069 Ulm, Germany
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Sakalauskas Egidijus
Institut für Physik, Technische Universität Ilmenau, PF100565, 98684 Ilmenau, Germany
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Bläsing Jürgen
Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, 39106 Magdeburg, Germany
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Moser Pascal
Institut für Experimentelle Physik, Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, 39106 Magdeburg, Germany
著作論文
- Systematic Optical Characterization of Two-Dimensional Electron Gases in InAlN/GaN-Based Heterostructures with Different In Content
- Systematic Optical Characterization of Two-Dimensional Electron Gases in InAlN/GaN-Based Heterostructures with Different In Content (Special Issue : Recent Advances in Nitride Semiconductors)