LUNDSTROM Mark | School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University

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概要

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School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University | 論文

• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• 符号化技術を用いた多重スキャン設計のテストデータ量削減について
• ドントケア判定と符号化によるテストデータ圧縮について
• ショーパスディレイ : 故障モデルとテスト生成
• パス遅延故障におけるパス選択とテスト生成について

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