Kouno Takahiro | Fujitsu Ltd., Akiruno Technology Center, 50 Fuchigami, Akiruno, Tokyo 197-0833, Japan

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概要

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• Fujitsu Ltd., Akiruno Technology Center, 50 Fuchigami, Akiruno, Tokyo 197-0833, Japanの論文著者

関連著者

• MATSUYAMA Hideya

  FUJITSU LSI Quality Assurance Div.

• SUZUKI Takashi

  Fujitsu Laboratories Ltd.

• Nakamura Tomoji

  Fujitsu Lab. Ltd.

• Matsuyama Hideya

  Fujitsu Ltd., 1500 Mizono, Tado-cho, Kuwana, Mie 511-0192, Japan

• Kouno Takahiro

  Fujitsu Ltd., Akiruno Technology Center, 50 Fuchigami, Akiruno, Tokyo 197-0833, Japan

著作論文

• Effect of Layout Variation on Stress Migration in Dual Damascene Copper Interconnects

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