GHIBAUDO Gerard | Laboratoire de Physique des Composants a Semiconducteurs
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概要
関連著者
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Ghibaudo Gerard
Laboratoire De Physique Des Composants A Semiconducteurs Enserg
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GHIBAUDO Gerard
Laboratoire de Physique des Composants a Semiconducteurs
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Ghibaudo G
Laboratoire De Physique Des Composants A Semiconducteurs
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LLINARES Pierre
France Telecom, Centre National d'Etudes des Telecommunications
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MOURIER Yannick
Universite Montpellier II-Sciences et Techniques du Languedoe
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GAMBETTA Nicolas
ST-Microelectronics
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LAURENS Michel
ST-Microelectronics
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CHROBOCZEK Jan
France Telecom, Centre National d'Etudes des Telecommunications
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Brini Jean
IMEP(LPCS)
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Chroboczek Jan
France Telecom Centre National D'etudes Des Telecommunications
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Llinares P
France Telecom Centre National D'etudes Des Telecommunications:st-microelectronics
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Kamarinos Georges
Laboratoire De Physique Des Composants A Semiconducteurs Enserg
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DIMITRIADIS Charalabos
Laboratoire de Physique des Composants a Semiconducteurs, ENSERG
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BRINI Jean
Laboratoire de Physique des Composants a Semiconducteurs, ENSERG
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Dimitriadis Charalabos
Laboratoire De Physique Des Composants A Semiconducteurs Enserg:(present Address) Department Of Phys
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LLINARES Pierre
France Telecom, Centre National d'Etudes des Telecommunications:ST-Microelectronics
著作論文
- Determination of Base and Emitter Resistances in Bipolar Junction Transistors from Low Frequency Noise and Static Measurements (Special Issue on Microelectronic Test Structures)
- Characterization of Low-Pressure Chemical Vapor Deposited Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors by Low-Frequency Noise Measurements