GHIBAUDO G. | IMEP, Minatec-INPG
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概要
IMEP, Minatec-INPG | 論文
- Low-frequency noise characterizations of back-gate ZnO nanorod field-effect transistor structure (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
- Low-frequency noise characterizations of back-gate ZnO nanorod field-effect transistor structure (Silicon devices and materials: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
- Impact of Silicon Film Thickness on LF Noise in SOI Devices
- Technology Oriented Analytical Models of MOSFETs in the Quasi Ballistic Regime
- Mobility and Backscattering in Germanium n-type Inversion Layers