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IMEP, Minatec-INPG | 論文

• Low-frequency noise characterizations of back-gate ZnO nanorod field-effect transistor structure (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
• Low-frequency noise characterizations of back-gate ZnO nanorod field-effect transistor structure (Silicon devices and materials: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
• Technology Oriented Analytical Models of MOSFETs in the Quasi Ballistic Regime
• Mobility and Backscattering in Germanium n-type Inversion Layers
• Impact of Silicon Film Thickness on LF Noise in SOI Devices

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