MARKOV S. | EEE Dept., Univ. of Glasgow

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概要

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• EEE Dept., Univ. of Glasgowの論文著者

EEE Dept., Univ. of Glasgow | 論文

• 3D Statistical Simulation of Gate Leakage Fluctuations Due to Combined Interface Roughness and Random Dopants
• Impact of Oxide Thickness Fluctuation on MOSFETs Gate Tunnelling

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