Ferrier Marlène | IMEP, 23 rue des Martyrs, 38000 Grenoble, France
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概要
IMEP, 23 rue des Martyrs, 38000 Grenoble, France | 論文
- Low-frequency noise characterizations of back-gate ZnO nanorod field-effect transistor structure (Electron devices: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
- Low-frequency noise characterizations of back-gate ZnO nanorod field-effect transistor structure (Silicon devices and materials: 第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
- Impact of Silicon Film Thickness on LF Noise in SOI Devices
- Analytical Compact Model for Quantization in Undoped Double-Gate Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistors and Its Impact on Quasi-Ballistic Current