真田 克 | NECエレクトロニクス(株) テスト評価技術開発事部

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概要

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• NECエレクトロニクス(株) テスト評価技術開発事部の論文著者

論文 | ランダム

• 2a-TA-5 Si(113)面上の電子線照射欠陥の電子線回折
• 1p-TE-1 『シリコンの点欠陥と自己拡散はどこまで解明されたか』企画の趣旨
• シリコンの点欠陥と自己拡散
• 4a-ZA-5 シリコンの自己拡散の担い手は何か
• PP119081 食道表在癌手術症例における臨床病理学的検討

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