Lee Hyung | Device Development Dept. 1 Lg Semicon Co. Ltd.

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概要

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• 同名の論文著者
• Device Development Dept. 1 Lg Semicon Co. Ltd.の論文著者

関連著者

• Lee Hyung

  Device Development Dept. 1 Lg Semicon Co. Ltd.

著作論文

• Hot Hole Induced Degradation in Submicron Buried Channel LDD PMOSFET's

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