Kuo Chin‐wei | Tsmc

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概要

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• 同名の論文著者
• Tsmcの論文著者

Tsmc | 論文

• On the High-Frequency Characteristics and Model of Bulk Effect in RF MOSFETs(Microelectronic Test Structures)
• Oxygen-Vacancy-Induced V_t shift in La-containing Devices
• Challenges of Cu Metallizatioin for 45nm and beyond

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