SCHIRL U. | Institute of Applied Physics, University of Erlangen-Nurnberg

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概要

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• 同名の論文著者
• Institute of Applied Physics, University of Erlangen-Nurnbergの論文著者

関連著者

• Mueller H.

  Institute Of Applied Physics University Of Erlangen-nurnberg

• SCHULZ M.

  Institute of Applied Physics, University of Erlangen-Nurnberg

• SCHIRL U.

  Institute of Applied Physics, University of Erlangen-Nurnberg

• Schirl U.

  Institute Of Applied Physics University Of Erlangen-nurnberg

• Schulz M.

  Institute Of Applied Physics University Of Erlangen-nurnberg

著作論文

• Single, Individual Traps at the SiO_2/Si Interface in Sub-μm MOSFETs

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