Young R.j. | Fei Company

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概要

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• Fei Companyの論文著者

Fei Company | 論文

• 原子分解能の環境制御S/TEMとその未来
• 次世代の電子光学系を有する収差補正電子顕微鏡の開発
• Rapid Prototyping of Nanostructured Materials with a Focused Ion Beam
• 触媒研究のための収差補正・環境制御型透過電子顕微鏡の開発
• 実環境下でのプロセス・特性評価のための収差補正・環境制御型透過電子顕微鏡とその応用

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