大日方 浩二 | ソニー株式会社

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概要

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関連著者

• 大日方 浩二

  ソニー株式会社

著作論文

• 先端LSIにおけるNBTIの故障物理と評価(先端LSI技術と信頼性)
• 半導体デバイスの信頼性基礎講座(6) : 半導体デバイスの信頼性試験(信頼性基礎講座)
• NBTI劣化モデルの最新動向(CMOS技術の限界,課題,新しい展開)

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