Sakamoto Kenji | Crest Japan Science And Technology Corporation:research Institute Of Electrical Communication Tohoku
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概要
- 同名の論文著者
- Crest Japan Science And Technology Corporation:research Institute Of Electrical Communication Tohokuの論文著者
Crest Japan Science And Technology Corporation:research Institute Of Electrical Communication Tohoku | 論文
- 12aPS-7 スピン偏極二次電子顕微鏡による Fe/Si/Fe の交換結合測定(磁性・磁気共鳴, 領域 3)
- 29pPSB-45 Ge_2Sb_2Te_5とSb_2Te_3のSTM発光分光(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 29pRD-1 ピコ秒レーザー照射下のSTM発光スペクトル(29pRD 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 走査型トンネル顕微鏡(STM)発光の高感度計測技術
- 23aTD-9 完全に孤立した金属微粒子のSTM発光分光(表面ナノ構造量子物性,微粒子クラスタ,領域9,表面・界面,結晶成長)