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Avouris Phaedon | IBMワトソン研
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関連著者
長谷川 幸雄
東大物性研
長谷川 幸雄
京大工
Avouris Phaedon
IBMワトソン研
Avouris Phaedon
Ibm
Lyo Whan-In
IBMワトソン研
著作論文
28p-WC-1 ナノサイズ点接触法による半導体表面準位を介した電気伝導度測定の可能性
14p-DH-10 走査トンネル分光による表面ステップ近傍での定在波の観察II
13a-PS-26 走査トンネル顕微鏡によるAu(111)表面の再構成構造の微細加工
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