Lyo Whan-In | IBMワトソン研

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概要

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• 同名の論文著者
• IBMワトソン研の論文著者

関連著者

• 長谷川 幸雄

  東大物性研

• 長谷川 幸雄

  京大工

• Lyo Whan-In

  IBMワトソン研

• Avouris Phaedon

  IBMワトソン研

著作論文

• 28p-WC-1 ナノサイズ点接触法による半導体表面準位を介した電気伝導度測定の可能性

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