Sofuni Toshio | オリンパス光学工業

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概要

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オリンパス光学工業 | 論文

• C. I. R. P. の表面あらさの未来予測に関する座談会 : 表面あらさの測定法, 表面あらさ測定器の校正法について
• リニヤスケール経年変化の調査
• 三次元測定器の検出器
• プロファイルの定義について
• せん断流と伸張流における非常に希薄な高分子溶液の弾性の測定

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