真田 克 | Nec デバイス評価技術研究所:大阪大学大学院 工学研究科

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概要

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• 同名の論文著者
• Nec デバイス評価技術研究所:大阪大学大学院 工学研究科の論文著者

関連著者

• 藤岡 弘

  大阪大学大学院 工学研究科

• 真田 克

  Nec デバイス評価技術研究所:大阪大学大学院 工学研究科

• 真田 克

  Necデバイス分析評価技術センター

著作論文

• C-12-9 IDDQ異常現象を用いたLogic回路の歩留り向上の為の欠陥診断技術
• Killer欠陥抽出の為の診断領域の定義 : IDDQ異常現象を用いた故障診断
• IDDQ異常現象を利用した配線ショート個所検出手法

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