Yoshinaka Akira | Semiconductor And Integrated Circuits Division Hitachi Ltd.

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概要

• 同名の論文著者
• Semiconductor And Integrated Circuits Division Hitachi Ltd.の論文著者

関連著者

• Kato Teruo

  Semiconductor And Integrated Circuits Division Hitachi Ltd.

• Yoshinaka Akira

  Semiconductor And Integrated Circuits Division Hitachi Ltd.

• SUGITA Yoshimitsu

  Semiconductor and Integrated Circuits Division, Hitachi, Ltd.

• Sugita Yoshimitsu

  Semiconductor And Integrated Circuits Division Hitachi Ltd.

著作論文

• Influence of Doping Impurities on Stacking Fault Generation in Thermally Oxidized Silicon

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