攝津 暢浩 | 愛媛大・院

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概要

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関連著者

• 攝津 暢浩

  愛媛大・院

• 高橋 学

  愛媛大学理工学研究科

• 摂津 暢浩

  愛媛大・院

• 岡部 永年

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 黄木 景二

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 岡部 永年

  愛媛大学

• 岡部 永年

  愛媛大学工学部

• 堤 三佳

  愛媛大院

• 黄木 景二

  愛媛大院

• 高橋 学

  愛媛大院

• 黄木 景二

  愛媛大学

• 黄木 景二

  愛媛大

• 高橋 学

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 岡部 永年

  愛媛大学サテライトオフィス東京

• 高橋 学

  愛媛大学

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著作論文

• J0103-1-1 電子デバイス接合体の破壊強度に及ぼすせん断負荷の影響(電子情報機器,電子デバイスの強度・信頼性評価と熱制御(1))
• 402 繰返し熱負荷を受ける熱電モジュールの強度解析(締結・接合部の力学・プロセスと信頼性評価)
• 1508 サーモモジュールの熱疲労寿命解析(OS15.電子デバイス・電子材料と計算力学(2),オーガナイズドセッション)
• 722 サーモモジュールの疲労破壊と影響因子の検討(OS4.電子デバイス・電子材料と計算力学(4),オーガナイズドセッション)
• S45C/Cu/SiN複合材料の機械的特性に及ぼす熱負荷条件の影響
• 繰返し熱負荷を受けるCu/AlN複合基板の機械的強度特性

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