崎山 樹 | 千葉県がんセンター・生化
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概要
論文 | ランダム
- SENSE法の頭部領域への応用に関する検討
- 有限要素法応力解析とデバイスシミュレーションによる実装応力に起因したnMOSFETのDC特性変動評価
- 624 応力に起因したnMOSFETの電気特性変動デバイスシミュレーション(フリップチップ,基板,電気特性,等,OS01 電子デバイス・電子材料と計算力学)
- 4330 樹脂封止されたMOSFETの残留応力に起因した電気特性変動の評価(J05-3 実装信頼性,J05 電子情報機器,電子デバイスの熱制御と強度・信頼性評価)
- ピエゾ抵抗テストチップと有限要素法解析を用いた樹脂封止に起因する半導体チップ表面の残留応力評価