秋元 義明 | 工業技術院計量研究所測定システム部
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概要
関連著者
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秋元 義明
工業技術院計量研究所測定システム部
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秋元 義明
計量研究所
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稲場 肇
計量研究所
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笠原 剛
工業技術院計量研究所測定システム部
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坂本 和平
計量研究所
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田幸 敏治
東京理科大学理工学部
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田幸 敏治
東理工 理工
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笠原 剛
計量研究所
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中沢 正隆
東北大学電気通信研究所
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中沢 正隆
NTT未来ねっと研究所
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中沢 正隆
NTT光ネットワークシステム研究所
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小向 哲郎
日本電信電話株式会社NTT未来ねっと研究所
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小向 哲郎
NTT未来ねっと研究所
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笠原 剛
計量研
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吉田 英二
日本電信電話株式会社NTT未来ねっと研究所
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山下 正文
東京理科大学
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吉田 英二
Ntt未来ねっと研究所
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吉田 英二
NTT光ネットワークシステム研究所
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田村 公一
NTT光ネットワークシステム研究所
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小向 哲郎
NTT光ネットワークシステム研究所
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山下 正文
東京理科大学 理工学研究科物理学専攻
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石橋 利晃
ヤマハ(株)AV・IT事業本部DS商品開発部
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杉山 尚樹
(株)リコー画像システム事業本部FCP事業部
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李 容哲
日本科学エンジニアリング(株)八王子工場技術部
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畠山 重雄
日本科学エンジニアリング(株)八王子工場技術部
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吉広 和夫
電総研
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大井 みさほ
計量研
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山下 正文
東京理大
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吉田 英二
Ntt 未来ねっと研
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秋元 義明
計量研
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田幸 敏治
東京理科大学
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陳 徐宗
北京大学
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山崎 詳明
大阪ガス
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文 熙覚
韓国産業資源省技術標準院
著作論文
- 超狭帯域光ファイバグレーティングを用いた単一周波数単一偏波
- 周波数安定化用543nm He-Neレーザの最適動作
- CWエルビウム添加光ファイバレーザにおけるモードホップの要因
- 周波数安定化レ-ザ-の安定度評価
- CWエルビウム添加光ファイバレーザにおけるモードホップの要因
- 単一周波数ファイバレーザの特性とそのセンシングへの応用
- 超狭帯域光ファイバグレーティングを用いた単一周波数単一偏波ファイバリングレーザ
- 633nmよう素安定化半導体レーザシステムの構成とスペクトル特性
- 半導体レーザによる633nm領域のよう素分光
- He-Neレ-ザ-の多波長化
- レ-ザ-の周波数安定化と同調 (「21世紀に向けたレ-ザ-の発展--現状と今後の見通し」特集号) -- (基礎的パラメ-タ-の極限)
- 二重制御方式によるメタン安定化レ-ザ-
- レ-ザによるメタン濃度測定システムの開発 (最近のプロセスセンサとその開発のあり方)
- 計量標準の交際的整合化に向けてのグローバルMRA (特集 21世紀の計量標準について)
- グローバルMRAの概要 (特集 国際相互承認問題の現状とその対応)
- 光計測用635nm半導体レーザのユニット化(第2報)-試作品の性能評価と干渉計測への考察-
- 計量標準に係わる国際動向 (特集 新たな計量行政)
- 光計測用635nm半導体レーザのユニット化(第1報) -試作とその特性-
- 液体用流量計の自動校正方法の一考察
- 光周波数標準と安定化レ-ザ-
- 電磁気精密測定国際会議 (CPEM'92)報告
- 気体レ-ザ- (レ-ザ-スペクトル線幅の狭さく化(技術ノ-ト))
- レ-ザ-周波数制御用電歪素子アッセンブリの周波数応答