廣瀬 幸範 | 半導体理工学研究セ
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概要
半導体理工学研究セ | 論文
- ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- D-10-16 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)