前田 浩五郎 | 電総研 田無
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概要
関連著者
著作論文
- 1p-LA-4 C_2H_2のイオン化効率曲線のシミュレーション法による再現
- 11a-M-3 電子衝撃によるC_2D_2のイオン化効率曲線
- 4a-KR-2 電子衝撃によるエタンのイオン化効率曲線
- K. D. Sevier: Low Energy Electron Spectrometry, Wiley-Interscience, New York and London, 1972, 397 ページ, 28.5×22.5cm, 12,600 円