Thomson R. | Nist
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概要
関連著者
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Thomson R.
Nist
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神藤 欣一
東京工大総合理工
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神藤 欣一
東工大総合理工
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菊池 良一
カリフォルニア大・バークレー校
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菊池 良一
UCLA Dep of Material
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Thomson R.
NIST(USA)
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菊地 良一
UCLA
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Tewary V.K.
NIST(USA)
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菊地 良一
カリフォルニア大学バークレー校
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Tewary V.
NIST
著作論文
- 1a-M-6 クラスター変分法による格子欠陥周囲の原子変位の計算III
- 連続変位クラスター変分法による格子欠陥(クラック、転位)の計算
- 6a-Q-5 共有結合性半導体(Si)のクラック進展の格子理論
- 28p-T-3 共有結合性半導体のクラック進展に及ぼす不純物ドープ効果(28pT 格子欠陥)