奥村 豊彦 | 日本電子
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概要
関連著者
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奥村 豊彦
日本電子
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奥村 豊彦
日本電子(株)
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奥村 豊彦
日本電子(株)電子光学機器技術本部
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斉藤 昌樹
日本電子(株)
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田中 良平
東京工業大学:(株)超高温材料研究センター
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菊池 実
東京工業大学工学部
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田中 幸基
新日本製鐵株式会社先端技術研究所
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村山 順一郎
住友金属テクノロジー(株)
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梅原 博行
産業技術総合研
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小林 尚
TC202日本代表
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日野谷 重晴
住友金属テクノロジー(株)
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小林 尚
アルバック・ファイ(株)
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丹羽 直昌
(株)島津製作所
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大堀 謙一
(株)堀場製作所
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梅原 博行
(独)産業技術総合研究所
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大堀 謙一
株式会社 堀場製作所半導体・科学システム統括部副統括部
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田中 幸基
新日鉄
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高橋 秀之
日本電子(株)
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小林 尚
アルバックファイ
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丹羽 直昌
島津製作所
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脇田 三郎
三菱金属(株)中央研究所
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田中 幸基
新日本製鐵(株)技術開発本部先端技術研究所解析科学研究部
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大堀 謙一
堀場製作所
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日野谷 重晴
住友金属工業株式会社総合技術研究所商品基盤技術研究部
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脇田 三郎
東京工業大学大学院
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平田 衡
日本電子(株)
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高倉 優
日本電子(株)電子光学機器技術本部応用研究センター第3応用研究グループ
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高倉 優
日本電子
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日野谷 重晴
住友金属テクノロジー
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田中 幸基
新日本製鐵(株)
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菊池 実
東京工業大学
著作論文
- マイクロビームアナリシスの国際標準化(ISO/TC202)の動向
- 25Cr-28Ni-2Mo-0.31N オーステナイト鋼中に析出するβ-Mn 構造を有する相の EPMA による観察
- 電子プローブマイクロアナライザーによる薄膜試料の解析
- EPMAによる酸化物超電導相の分析