高橋 秀之 | 日本電子(株)
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概要
関連著者
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高橋 秀之
日本電子(株)
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高橋 秀之
日本電子 応用研セ
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河合 潤
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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河合 潤
京都大学大学院工学研究科
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林 好一
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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林 好一
京都大学大学院工学研究科
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Hayashi K
Photodynamics Research Center Riken (institute Of Physical And Chemical Research)
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粟倉 泰弘
京都大学大学院 工学研究科
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岡崎 真也
京都大学大学院工学研究科
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粟倉 泰弘
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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奥村 豊彦
日本電子(株)
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HARROWFIELD Ian
Division of Minerals CSIRO
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MACRAE Colin
Division of Minerals CSIRO
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WILSON Nick
Division of Minerals CSIRO
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奥村 豊彦
日本電子
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奥村 豊彦
日本電子(株)電子光学機器技術本部
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高倉 優
日本電子(株)電子光学機器技術本部応用研究センター第3応用研究グループ
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高倉 優
日本電子
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高橋 秀之
日本電子(株)電子光学機器技術本部応用研究センター第3グループ
著作論文
- EPMAによるX線放射構造解析への応用
- EXEFS法による硫黄K吸収端スペクトル
- EPMA による微小領域の Mg の X 線吸収微細構造測定(微小域構造解析)(最先端の化学分析と物理解析)
- EPMAを用いた軽元素の局所X線吸収分光分析
- EPMAを用いた発光X線微細構造(EXEFS)による軽元素の局所構造分析
- 電子プローブマイクロアナライザーによる薄膜試料の解析
- 電子線マイクロアナリシス